2022年5月13日
Zeta 電位性能驗(yàn)證
本指南旨在介紹用于驗(yàn)證 NanoBrook ZetaPlus、ZetaPALS、90PlusPALS 和 Omni 儀器性能的 Zeta 電位驗(yàn)證樣品的正確制備方法。
應(yīng)用領(lǐng)域: Zeta 電位樣品制備
儀器: NanoBrook 系列
儀器: NanoBrook 系列
本指南旨在介紹用于驗(yàn)證 NanoBrook ZetaPlus、ZetaPALS、90PlusPALS 和 Omni 儀器性能的 Zeta 電位驗(yàn)證樣品的正確制備方法。
在本系列關(guān)于粒度及其分布的上一篇文章中,我們已使用連續(xù)分布定義了微分粒度分布和累積粒度分布函數(shù)的主要特征,并對(duì)此進(jìn)行了討論。
粒度分布數(shù)據(jù)可以通過(guò)數(shù)值(表格形式)或圖形形式呈現(xiàn)。
靜態(tài)光散射(SLS)是一種利用高精度光子計(jì)數(shù)來(lái)測(cè)量粒徑、分子量和其他結(jié)構(gòu)參數(shù)的技術(shù)。
脂質(zhì)體是一種常用的體系,用于包裹和遞送具有生物活性的載藥分子。
使用工業(yè)碳黑樣品來(lái)驗(yàn)證布魯克海文儀器公司 BI-DCP 圓盤式離心沉降粒度儀的功效。
基線指數(shù)(Baseline Index,簡(jiǎn)稱<26>BI26>)是一個(gè)用于量化灰塵污染對(duì)動(dòng)態(tài)光散射(DLS)測(cè)量影響的關(guān)鍵指標(biāo)。
光散射技術(shù)可用于解決在處理特殊功能塑料及相關(guān)聚合物前體時(shí)遇到的諸多獨(dú)特問(wèn)題。
布魯克海文儀器公司的自動(dòng)滴定儀(BI-ZTU)為研究人員提供了一種研究 pH 值對(duì) Zeta 電位(ζ)影響的工具。